TN-254紫外线强度计频谱范围：220~275nm TN254紫外照度计中心波长：254nm 量程：1uW/cm2~40.00mW/cm2 精度：±(4% +1dgt) 自动记录 调零 20点记忆 取样时间0.3秒 背光LCD双显示 操作温度：0~50°C
TN254紫外照度计简介 工业：焊接时监测蓝紫射线辐射；阳光辐射监测；UV；图形艺术；UV EPROM擦除；光刻曝光 ；实验室：风化研究；UV；病毒学；微生物遗传学；DNA研究；普通实验室用途；
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